恒奧德儀器測(cè)厚儀使用注意事項(xiàng)應(yīng)用
使用注意事項(xiàng)
測(cè)厚儀的測(cè)試方法主要有：磁性測(cè)厚法，放射測(cè)厚法，電解測(cè)厚法，渦流測(cè)厚法，聲波測(cè)厚法。
測(cè)量注意事項(xiàng)：
⒈在行測(cè)試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
⒉測(cè)量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
⒊測(cè)量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測(cè)量時(shí)要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。
⒌測(cè)量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng)，如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。
⒍測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量，因?yàn)榘愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。
⒏在行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸，因此聲波測(cè)厚儀在行對(duì)側(cè)頭**附著物質(zhì)
應(yīng)用
1、激光測(cè)厚儀是利用激光的反射原理，根據(jù)光切法測(cè)量和觀察機(jī)械制中零件加表面的微觀幾何形狀來(lái)測(cè)量產(chǎn)品的厚度，是種非接觸式的動(dòng)態(tài)測(cè)量?jī)x器。它可直接輸出數(shù)字信號(hào)與業(yè)計(jì)算機(jī)相連接，并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種業(yè)設(shè)備。
2、X射線測(cè)厚儀利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí)，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，滄州歐譜從而測(cè)定材料的厚度，是種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。它以PLC和業(yè)計(jì)算機(jī)為核心，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng)，達(dá)到要求的軋制厚度。主要應(yīng)用行業(yè)：有色金屬的板帶箔加、冶金行業(yè)的板帶加。
3、紙張測(cè)厚儀：適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測(cè)量。
4、薄膜測(cè)厚儀：用于測(cè)定薄膜、薄片等材料的厚度，測(cè)量范圍寬、，具有數(shù)據(jù)輸出、公英制轉(zhuǎn)換、自動(dòng)斷電等特點(diǎn)。
類型
用于測(cè)定材料本身厚度或材料表面覆蓋層厚度的儀器。有些構(gòu)件在制和檢修時(shí)須測(cè)量其厚度，以便了解材料的厚薄規(guī)格，各點(diǎn)均勻度和材料腐蝕、磨損程度；有時(shí)則要測(cè)定材料表面的覆蓋層厚度，以保證產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)安。根據(jù)測(cè)定原理的不同，常用測(cè)厚儀有聲、磁性、渦流、同位素等四種。
聲波測(cè)厚儀聲波在各種介質(zhì)中的聲速是不同的，但在同介質(zhì)中聲速是常數(shù)。聲波在介質(zhì)中傳播遇到二種介質(zhì)時(shí)會(huì)被反射，測(cè)量聲波脈沖從發(fā)射至接收的間隔時(shí)間，即可將這間隔時(shí)間換算成厚度。在電力業(yè)中應(yīng)用就是這類測(cè)厚儀。常用于測(cè)定鍋爐鍋筒、受熱面管子、管道等的厚度，也用于校核件結(jié)構(gòu)尺寸等。這類測(cè)厚儀多是攜帶式的，體積與小型半導(dǎo)體收音機(jī)相近，厚度值的顯示多是數(shù)字式的。對(duì)于鋼材，測(cè)定厚度達(dá)2000 mm左右，精度在±0.01～±0.1 mm之間。
磁性測(cè)厚儀在測(cè)定各種導(dǎo)磁材料的磁阻時(shí)，測(cè)定值會(huì)因其表面非導(dǎo)磁覆蓋層厚度的不同而發(fā)生變化。利用這種變化即可測(cè)知覆蓋層厚度值。常用于測(cè)定鐵磁金屬表面上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油漆層等的厚度。
渦流測(cè)厚儀當(dāng)載有頻電流的探頭線圈置于被測(cè)金屬表面時(shí)，由于頻磁場(chǎng)的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流，此渦流產(chǎn)生的磁場(chǎng)又反作用于探頭線圈，使其阻抗發(fā)生變化，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離（即覆蓋層的厚度）有關(guān)，因而根據(jù)探頭線圈阻抗的變化可間接測(cè)量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測(cè)定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他緣覆蓋層的厚度。
同位素測(cè)厚儀利用物質(zhì)厚度不同對(duì)輻射的吸收與散射不同的原理，可以測(cè)定薄鋼板、薄銅板、薄鋁板、硅鋼片、合金片等金屬材料及橡膠片，塑料膜，紙張等的厚度。常用的同位素射線有γ射線、β射線等。 [1]
